Hình ảnh chỉ để tham khảo
SN74ABTH182646APM
+BOMIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
-
Nhà sản xuấtTexas Dụng cụ
-
Ông. Phần #SN74ABTH182646APM
-
Bảng dữ liệu SN74ABTH182646APM DataSheet
-
Gói LQFP-64
-
Có sẵn7383
365 Đảm bảo chất lượng ngày
7*24 giờ dịch vụ quarantee
90-Bảo hành sau bán hàng ngày
Bảo hành sản phẩm chính xác
Thông số kỹ thuật
| thuộc tính | Giá trị |
| Supplier | Rochester Electronics, LLC,Texas Instruments |
| Package / Case | Bulk,Tray |
| Series | 74ABTH |
| Part Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Voltage - Supply | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
