Hình ảnh chỉ để tham khảo
SN74BCT8374ADW
+BOMIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
-
Nhà sản xuấtTexas Dụng cụ
-
Ông. Phần #SN74BCT8374ADW
-
Bảng dữ liệu SN74BCT8374ADW DataSheet
-
Gói SOIC-24
-
Có sẵn7551
365 Đảm bảo chất lượng ngày
7*24 giờ dịch vụ quarantee
90-Bảo hành sau bán hàng ngày
Bảo hành sản phẩm chính xác
Thông số kỹ thuật
| thuộc tính | Giá trị |
| Supplier | Texas Instruments |
| Package | Tube |
| Series | 74BCT |
| ProductStatus | Active |
| LogicType | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| SupplyVoltage | 4.5V ~ 5.5V |
| NumberofBits | 8 |
| OperatingTemperature | 0°C ~ 70°C |
| MountingType | Surface Mount |
| Package/Case | 24-SOIC (0.295, 7.50mm Width) |
